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Defectes Defectos Detección de defectos Self organizing maps Statistical process control Tolerancia al daño Admisibles de diseño
Lopes, Cláudio Saúl VehÃ, Josep Ariño PalacÃn, MarÃa Arteiro, Albertino Curado Mateus Correia, Nuno André Vallmajó MartÃn, Oriol Costa i Balanzat, Josep